￥電議型號：JSM-IT800SHL更新時間：2023-3-22 產品目錄
jsm-it800shl 是日本電子株式會社（jeol） 2020 年新推出的場發射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場發射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩定性的傳統，同時將分辨率提高到新的限，全新設計的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成，而且標配 jeol 新開發的 neo
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￥電議型號：Sigma更新時間：2023-3-21 產品目錄
sigma 300 性價比高。sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器，可快速方便地實現基礎分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。
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￥電議型號：SEM5000更新時間：2023-3-20 產品目錄
國儀量子場發射掃描電鏡sem5000，可實現低電壓高分辨成像，磁性樣品也可適用，豐富的接口，滿足多樣的需求，精心設計的人機交互方便操作，快速上手
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￥電議型號：XF804-D56更新時間：2023-3-20 產品目錄
可實現大范圍、超高速、高精度與高重復性的激光光束掃描。多面掃描鏡裝置/多面轉鏡包括電機與多面鏡，多面鏡具有多個反射面，并安裝在電動機的旋轉軸上。通過電機的旋轉，多面鏡可實現高速旋轉，從而實現大角度、高速的光束掃描。
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￥電議型號：SU3900更新時間：2023-3-20 產品目錄
在以納米技術和生物技術為主的產業域里，從物質的微細結構到組成成分，sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應用。sem用途日益擴大，但對于鋼鐵等工業材料和汽車零配件等超大/超重樣品，由于電鏡樣品臺能對應的樣品尺寸和重量受到限制，所以觀察時需要進行切割等加工。因此，對超大樣品不施以加工處理，便可直接觀察表面微細形貌和進行各種分析則成為重要的課題。
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￥電議型號：SNE-3000MS更新時間：2023-3-20 產品目錄
sne-3000ms系列產品是針對工廠和實驗室配置的一款高端掃描電鏡.
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￥電議型號：更新時間：2023-3-18 產品目錄
日立高新超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡su9000日立高新超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡su9000是專門為電子束敏感樣品和需300萬倍穩定觀察的半導體器件，高分辨成像所設計。紫外臭氧清洗機常用于掃描
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￥電議型號：更新時間：2023-3-16 產品目錄
蔡司電腦斷層掃描測量機-多探頭測量機設備;工業計算機斷層掃描（ct）為您提供了quanxin的洞見，讓您可以快速采集所有內部結構的體積。蔡司是快速ct的先驅，并且能夠在生產周期中對組件進行完整的以體積為基礎的檢查。
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￥300000.00型號：JCM-7000更新時間：2023-3-13 產品目錄
日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強大的"zeromag"功能，讓您從光學顯微鏡的觀察方式，輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實現了sem影像觀察時實時的eds成份分析。
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￥5500.00型號：0號更新時間：2023-3-8 產品目錄
￥電議型號：更新時間：2023-2-17 產品目錄
本儀器具有較高的測量精度，適用于長度和角度的精密測量；同時由于配備有多種附件，使其使用范圍得到充分的擴大。應用計算機輔助測量，能解決各種復雜的二維測量問題，主要的測量對象有：刀具、量具、模具、樣板、螺紋和齒輪類工作等
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￥電議型號：CUBE-Ⅱ PLUS更新時間：2023-2-13 產品目錄
cube-ⅱ plus桌面掃描電鏡是一款電鏡能譜一體機產品，擁有高分辨的同時可以做ebs，方便用戶進行亞微米及納米分析，提供業性、整體性掃描電鏡解決方案
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￥電議型號：更新時間：2023-1-25 產品目錄
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導體、數據存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態或缺陷 。
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￥電議型號：DM2000 & DM2000 LED更新時間：2023-1-16 產品目錄
徠卡顯微鏡 dm2000 & dm2000 ledleica dm2000 & dm2000 led - 生物，醫療顯微鏡 生物，醫療顯微鏡 leica dm2000顯微鏡具有高模塊設計 和 高性能的熒光 ，因此可理想地用于 病理學、細胞學 ，以及其它復雜工作域。 為了滿足不同使用域的要求，leica dm2000可以配備 各種光學和對比度技術 。
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￥電議型號：CellVoyager CV1000更新時間：2023-1-15 產品目錄
cv1000采用了雙nipkow轉盤共聚焦掃描器，它可以將活細胞成像實驗中的光毒性和光漂白性降到低。在整個實驗期間，該系統的培養平臺可以保持實驗樣本（如柔弱的胚胎、ips/es細胞以及其它類型的細胞）的活性和溫度的恒定。
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￥電議型號：EIKOS更新時間：2023-1-15 產品目錄
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￥電議型號：TESCAN--場發射掃描電鏡 MIRA更新時間：2023-1-3 產品目錄
ui新一代的mira場發射掃描電鏡給用戶帶來了zui新的技術優點（如改進的高性能電子設備使成像過程更快，快速掃描系統包括了動態與靜態圖像扭曲補償，有內置的編程軟件等），同時保持著zui高的性價比。mira3的設計適用于各種各樣的sem應用及當今研究和產業的需求。大電子束流下的高分辨率有利于分析應用，例如：ebsd、wdx等分析。mira3場發射掃描電鏡可配置lm、xm或gm三種樣品室。
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￥電議型號：EVO 10更新時間：2022-11-12 產品目錄
蔡司 evo系列掃描電子顯微鏡evo系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結合在一起， 同時能夠吸引經驗豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學， 材料科學， 或例行的工業質量保證和失效分析域，憑借廣泛的可選配置， evo 都可以根據您的要求量身定制。
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￥電議型號：SU3800/SU3900更新時間：2022-10-31 產品目錄
日立高新推出的掃描電鏡su3800/su3900兼具操作性和擴展性，結合眾多的自動化功能，可高效發揮其高性能。su3900標配多功能超大樣品倉，可應對大型樣品的觀察。
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￥電議型號：更新時間：2022-9-14 產品目錄
上海祥樹歐茂機電設備有限公司是中國工業控制自動化域的服務貿易商，設有德國分公司,致力于為國內客戶提供優質低價的德國及歐洲生產的各類工控自動化產品、儀器儀表、備品備件等。通過德國分公司在歐洲范圍內采購,每周日由德國分公司拼單發貨并集中辦理進口手續,為您節省運費和清關等費用;每周至少空運發貨次,為您縮短貨期;可以人民幣,美金或歐元價成交,給您多樣化的選擇。 我們期待與您共同開創美好的明天！
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￥電議型號：Titan ETEM G2 更新時間：2023-3-21 產品目錄
?titan etem g2 是我們專用的環境 tem 平臺，設計用來觀測功能性納米材料及其隨著時間的推移對氣體和溫度刺激的響應。憑借du一無二的差動泵目鏡，標本區可變身為實驗室，展開對催化劑微粒、納米器件和其他材料的研究，進而在原子級別洞察表面和界面形態及相互作用。在需要時，titan etem 還可作為標準 s/tem 開展原子級別成像。- 化學成分和價鍵狀態研究
￥電議型號：TM4000Ⅱ更新時間：2023-3-20 產品目錄
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
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￥電議型號：SU9000更新時間：2023-3-20 產品目錄
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發射掃描電鏡，達到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進的真空系統和電子光學系統，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發射掃描電鏡甚至不需要傳統意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點： 1. 新型
￥電議型號：KYKY-EM3200系列更新時間：2023-3-10 產品目錄
產品說明： kyky-em3200系列掃描電鏡在電氣控制系統、計算機系統、操作控制軟件、圖像控制系統、圖像處理軟件、自動控制功能 等諸多方面都進行了改進。主要特點是穩定可靠、結構緊湊、操作方便、維護簡單，是一款性價比較高的經濟型電鏡。
￥電議型號：Chee-tah120 Timepix /Chee-tah1800 MPX3RX更新時間：2023-3-3 產品目錄
asi的chee-tah是一種適合于電子顯微鏡應用的混合像素探測器。chee-tah卓越的靈敏度和速度為獲得電子衍射、成像及斷層掃描提供了所未有的可能性。chee-tah 含有一個硅二管傳感器，硅二管被分成512x 512或1024 x 1024的像素陣列。每個像素通過bump-bonds與集成在芯片上的讀出電子器件相連，芯片位于傳感器下方。
￥電議型號：810-320-02更新時間：2023-2-22 產品目錄
三星空壓機空氣過濾器t5110034,三星壓縮機空氣過濾器t5110035，三星離心壓縮機振動探頭810-320-02，三星離心機壓力傳感器430-300-00，
￥電議型號：SU3800更新時間：2022-1-19 產品目錄
日立掃描電子顯微鏡（su3800）沿用了已 經經過驗證的gu i界面。另外還搭 載了廣受好評的sem map, 而且相機導航系統提供超大視野導航，為操作人員提供更加貼心順暢的操作體驗。
￥電議型號：sem更新時間：2022-1-3 產品目錄
形貌觀測、成分分析掃描電鏡（sem）可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。edx是借助于分析試樣發出的元素特征x射線波長和強度實現的，根據不同元素特征x射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試樣中元素的含量。通常edx結合電子顯微鏡（sem）使用，可以對樣品進行微區成分分析。
￥電議型號：FM-NanoviewT-STM更新時間：2021-12-7 產品目錄
教學型掃描隧道顯微鏡◆ 小型化及可拆卸化設計，方便攜帶及課堂教學；◆ 檢測頭和樣品掃描臺集成一體，穩定；◆ 單軸驅動樣品自動垂直接近探針，定位掃描區域，使針尖垂直于樣品掃描；◆ 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品；◆ 側面ccd觀測系統，實時觀察探針進針狀態及定位樣品掃描區域；◆ 彈簧懸掛式防震方式，簡單實用，防震效果好；
江蘇 蘇州 南京 無錫 常州 徐州 南通 揚州 鹽城 淮安 聊城 山東 威海 棗莊 德州 日照 東營 菏澤 浙江 杭州 寧波 溫州 金華 嘉興 臺州 紹興 湖州 麗水 衢州 舟山
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